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場發(fā)射透射電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品介紹失效分析是在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義,是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動

詳細介紹

產(chǎn)品介紹

失效分析是在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義,是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。

我們?yōu)榭蛻籼峁┑碾婌o檢測分析服務(wù)為:場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡、鎢燈絲掃描電子顯微鏡、冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡、透視電子顯微鏡、場發(fā)射透射電子顯微鏡

 

型號:Tecnai G2 F20 S-Twin


廠家:美國FEI 公司



場發(fā)射透射電子顯微鏡


主要用途:

1.該電鏡是一臺功能強大的材料分析型電子顯微鏡,廣泛應(yīng)用于生物、醫(yī)藥、化工、金屬、半導(dǎo)體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領(lǐng)域,可對材料的粒度、形貌、成分、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷進行分析;


2.其配備的STEM/HAADF附件可以成和原子序數(shù)相關(guān)的像,和能譜儀結(jié)合還可以很方便的測量樣品微區(qū)元素的線分布和面分布,對于高分辨像的解析非常有利


3.像素高達2K×2K的CCD可以及時將電子顯微像轉(zhuǎn)換成數(shù)字照片進行輸出,方便用戶。


主要配置:

Gatan 894 CCD(2K×2K)

STEM/HAADF探測器

美國EDAX能譜儀

低劑量曝光

單傾樣品桿、雙傾樣品桿、低背景雙傾樣品桿


性能指標:

1.場發(fā)射電子槍

2.加速電壓:20-200 kV連續(xù)調(diào)節(jié)

3.放大倍數(shù):25-1,000,000

4.點分辨率:0.24nm

5.線分辨率:0.102nm

6.信息分辨率:≤0.14nm

7.STEM分辨率:0.20 nm

8.STEM放大倍數(shù):200-100,000,000

9.EDS分辨率:優(yōu)于136 eV,分辨元素范圍B5-U92

10.MAX樣品傾角:±40°

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