臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。
我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。 為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。
臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡(SEM)在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立于2005年4月開始銷售,可放在辦公桌上,設(shè)計(jì)緊湊,比普通SEM更受廣大用戶歡迎。它不僅應(yīng)用于研究機(jī)構(gòu),而且還越來越廣泛地應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域,成為制造業(yè)品質(zhì)管理的利器。
"TM4000 II"和"TM4000Plus II" 可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能,觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Microsoft®Word®、Excel®、PowerPoint®格式的報(bào)告。此外,選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能。
TM4000 II/TM4000Plus II 具有以下三大特點(diǎn):
標(biāo)配低空模式,簡(jiǎn)化樣品前處理
采用低真空,不導(dǎo)電樣品也無需噴金,可以直接觀察,大大提高了工作效率。全自動(dòng)聚焦和亮度對(duì)比度調(diào)整,只需按幾個(gè)按鈕就可以拍攝圖片,簡(jiǎn)單快捷。
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件
樣品倉內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇,可根據(jù)需求自行設(shè)置。
簡(jiǎn)化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過程(選配)
在樣品倉上可選配光學(xué)相機(jī),樣品開始觀察前先拍攝樣品的整體照片,雙擊照片上的樣品,即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
另外,“TM4000 II"和“TM4000Plus II"可根據(jù)不同觀測(cè)目的,選擇5KV、10KV、15KV、20KV四種不同的觀測(cè)模式,獲取圖像。其中5kV適合觀察樣品表面形狀,10KV適合常規(guī)樣品觀察,15kV適合高倍率觀察,20KV適合元素成分分析。每個(gè)電壓下都有四擋束流可調(diào),可以針對(duì)不同的觀察需求選擇。
觀察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數(shù)據(jù),并制作報(bào)告。
觀察與分析的靈活性
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觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告。.
Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告
即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進(jìn)行觀察。
“荷電減輕模式"可抑制荷電現(xiàn)象
對(duì)于容易產(chǎn)生荷電的樣品,可使用“荷電減輕模式",在抑制荷電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“荷電減輕模式"。
可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察
對(duì)于容易產(chǎn)生荷電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。
可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像(表面形狀)觀察。
無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測(cè)器
采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過檢測(cè)由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測(cè)器,來檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。
高感度低真空二次電子檢測(cè)器的檢測(cè)原理可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。
通過加速電壓20 kV,實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化
Multi Zigzag(選配)
可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。
搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái),可實(shí)現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。
譜峰分析
線分析
EM 樣品臺(tái)(選配)
可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
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*UVD為 TM4000Plus II上的配件。
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樣品:研磨劑
加速電壓:20 kV
觀察信號(hào):(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率:10000 倍
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樣品:老鼠腎臟
加速電壓:15 kV
觀察信號(hào): STEM 圖像
放大倍率:1000倍
樣品:老鼠肝臟
加速電壓:15 kV
觀察信號(hào): STEM 圖像
倍率:5000倍