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表面粗糙度測量掃描儀 Leica DCM8

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更新時間：2023-03-31 10:01:38瀏覽次數(shù)：409次

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表面粗超度測量掃描儀 Leica DCM8Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高

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表面粗超度測量掃描儀 Leica DCM8
Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦...


   Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術(shù)確保用戶實現(xiàn)超快速的分析操作。可通過各種規(guī)格的徠卡物鏡、電動載物臺和鏡筒來對系統(tǒng)進行配置，以便適用于您的樣本。為滿足客戶的文檔創(chuàng)建需求，徠卡DCM8包括1個高清CCD攝像頭和4個LED光源（RGB和白色）能夠提供鮮明的真彩成像效果。

不管您是用于生產(chǎn)用途還是研究用途，Leica DCM8均能夠提供您所需要的精確、且可重復(fù)的測量分析結(jié)果，以便實現(xiàn)材料性能的優(yōu)化。

具有的精確度和可重復(fù)性

您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復(fù)雜的形貌？使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。

快速捕捉表面數(shù)據(jù)

Leica DCM8采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術(shù)。由于傳感器頭部未使用運動部件，因此設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)快速和可重現(xiàn)的捕捉數(shù)據(jù)。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區(qū)域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。

能夠有效地對結(jié)構(gòu)進行分析

我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8設(shè)備。配方方案，多樣本和統(tǒng)計分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執(zhí)行更為復(fù)雜的三維測量任務(wù)？那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當(dāng)然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應(yīng)用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統(tǒng)的測量功能。

很容易匹配您的樣本

能夠?qū)eica DCM8進行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質(zhì)物鏡。對于大尺寸樣本來說，從我們的可調(diào)整鏡筒和電動載物臺系列中進行選擇。除此之外系統(tǒng)還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。

獲取高質(zhì)量的圖像

通過將性能的光學(xué)元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍色和白色LED光源相結(jié)合，Leica DCM8能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續(xù)性，能夠確保每個像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結(jié)果就是能夠為您的樣本提供水晶版清晰透徹的圖像。

目前和將來都夠獲取非?？煽康慕Y(jié)果

高清微顯示掃描技術(shù)未配置任何運動部件，CCD攝像頭和4個LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創(chuàng)新性設(shè)計能夠?qū)崿F(xiàn)快速、可復(fù)制且無噪聲的圖像結(jié)果。值得一提的是，設(shè)備還具有較高的耐久性，實際上在較長的使用壽命期限內(nèi)設(shè)備幾乎不需要任何維護操作。



Leica DCM8將高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺儀器中
徠卡顯微系統(tǒng)發(fā)布用于無損三維表面輪廓形成的Leica DCM8。該儀器融合了共聚焦和干涉光學(xué)測量儀，因此具有這兩種技術(shù)的*性：用于高橫向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡，可獲得亞納米級的垂直分辨率。這兩種技術(shù)對于在各種不同的研究和產(chǎn)品環(huán)境下，進行材料和零部件的表面分析都非常重要。由帶有高坡區(qū)域的錯綜復(fù)雜的結(jié)構(gòu)制成的表面，要求數(shù)微米的橫向分辨率。與之相反，帶有臨界微型峰和谷的拋光超平滑表面，則要求納米尺度的縱向分辨率。
Leica DCM8可以滿足用戶對比表面積測量的具體要求——共聚焦顯微鏡可使橫向分辨率高達140nm，輔之以干涉測量法，垂直分辨率可高達0.1nm。產(chǎn)品管理團隊行業(yè)的團隊人——Stefan Motyka說：“ Leica DCM8是一種通用的、準(zhǔn)確的測量器，可以節(jié)省時間和成本：用戶不必交換儀器，就可以利用共聚焦和干涉測量技術(shù)，觀察和測量同一樣品——他們只需要一臺儀器。另外，顯微鏡的用戶友好的設(shè)置和操作，可以省時省力，非常快速、方便地提供精準(zhǔn)的結(jié)果。”
為了獲得高分辨率和高速度， Leica DCM8采用了共聚焦掃描技術(shù)，無需移動傳感頭中的部件，從而提高了可重復(fù)性和穩(wěn)定性。只需點擊鼠標(biāo)，即可在兩種技術(shù)之間快速、簡單地切換。
瑞士溫特圖爾IMPE的Christof Scherrer說：“我們之所以決定購買 Leica DCM8系統(tǒng)，是因為它可以用作光學(xué)顯微鏡，帶有明場、暗場和共聚焦以及三種干涉模式。對于像我們這樣的材料科學(xué)方面多元化的研究工作來說，靈活性是一項重要因素。”
除了使用不同技術(shù)用于觀察和分析之外， Leica DCM8還是一種用于樣品的精確色彩存檔的理想儀器。高品質(zhì)徠卡物鏡以及四個LED光源的多種選擇——藍色（460nm）、綠色（530nm）、紅色（630nm）和白色（中心550nm）——以及一個集成的CCD相機，提供逼真的彩色圖像。相機具有很大的視場——如果這還不夠，可以選擇XY地形拼接模式，以獲得較大面積的無縫、精確模型。直觀的軟件可以使用戶簡化復(fù)雜的3D和2D分析，完成符合具體需求的配置。
Leica DCM8是一種3D表面測量顯微鏡，將共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺儀器中。
Leica DCM8無需交換儀器，即可同時提供共聚焦和干涉測量技術(shù)。