產(chǎn)品展示
LT-NIR分析儀
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
產(chǎn)地:美國LT
簡介:
- 靈活性:提供不同配置滿足各種需求
- 快速瀏覽單色器:采集光譜掃描,速率6000波長/s
- 光纖:危險材料和地點(diǎn)的遠(yuǎn)程測量
- 自動波長參考:確保長時間波長校準(zhǔn)和準(zhǔn)確結(jié)果
- 穩(wěn)定源:長時間無人操作
- 電路:高S/N比,提高性能
- 設(shè)計緊湊:近距離操作,可用于流程環(huán)境
- 控制系統(tǒng)接口:Modbus, 4-20 mA和其他通訊協(xié)議
- 可選無線網(wǎng)絡(luò)
- 吹掃系統(tǒng):X,Y或Z
- 熱控外殼:在極限環(huán)境下操作
- 校準(zhǔn)透明度:支持校準(zhǔn)
- 用戶可選配置:環(huán)境要求和Z佳樣品呈現(xiàn)
- 光學(xué)平臺耐沖擊和振動
- 應(yīng)用廣泛:150多個自動獨(dú)立自檢以確保操作正確
- 操作:24h連續(xù)操作無關(guān)機(jī)
- 光譜范圍:1200 – 2400nm(可提供其他范圍:400 – 2400nm)
- 掃描速度:2.5/s
- 測量模式:反射,透射,傳輸反射
產(chǎn)品搜索
請輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字:
聯(lián)系方式