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   太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量的設(shè)備，檢測(cè)太陽(yáng)能硅片厚度用什么設(shè)備？檢測(cè)太陽(yáng)能硅片厚度可以用濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的太陽(yáng)能硅片厚度儀CHY-U來(lái)檢測(cè)。CHY-U型太陽(yáng)能硅片厚度儀* GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》要求，配有自動(dòng)進(jìn)樣器，可完成2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。在太陽(yáng)能硅片的生產(chǎn)過(guò)程中能夠起到重要作用。

太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量的設(shè)備

 

   為什么檢測(cè)太陽(yáng)能硅片厚度？

   在太陽(yáng)能硅片生產(chǎn)過(guò)程中，硅片厚度有一定的偏差范圍，對(duì)于180μm厚度的硅片，其偏差范圍為±20μm，超過(guò)此范圍則成為不良品--薄厚片，薄厚片的存在會(huì)影響產(chǎn)品的合格率，同時(shí)會(huì)影響電池片的生產(chǎn)工藝。通過(guò)對(duì)薄厚片的類型及產(chǎn)生原因進(jìn)行分析，可以更好地減少薄厚片的產(chǎn)生，搭配CHY-U型太陽(yáng)能硅片厚度儀對(duì)硅片厚度進(jìn)行測(cè)量，可提高產(chǎn)品的成品合格率。

 

   太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量的方法：

   標(biāo)準(zhǔn) GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》中給出了硅片厚度的測(cè)量方法，并對(duì)檢測(cè)儀器的相關(guān)參數(shù)做出了規(guī)定：

   1.測(cè)厚儀由帶指示儀表的探頭及支持硅片的夾具或平臺(tái)組成。

   2.測(cè)厚儀應(yīng)能使硅片繞平臺(tái)中心旋轉(zhuǎn)，并使每次測(cè)量定位在規(guī)定位置的2mm范圍內(nèi)。

   3.儀表zui小指示量值不大于1μm。

   4.測(cè)量時(shí)探頭與硅片接觸面積不應(yīng)超過(guò)2mm²。

 

   太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量可以用三泉中石的太陽(yáng)能硅片厚度儀，通過(guò)對(duì)太陽(yáng)能硅片厚度的測(cè)量，查找出導(dǎo)致厚度不均勻的原因，減少薄片的產(chǎn)生，提高高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。尋找厚度儀、太陽(yáng)能硅片厚度儀、厚度測(cè)試儀請(qǐng)致電三泉中石銷售部。