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加熱和電學(xué)桿-FUSION

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地北京市

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更新時間:2024-05-29 09:21:44瀏覽次數(shù):88次

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商鋪產(chǎn)品:7條

所在地區(qū):北京北京市

產(chǎn)品簡介

可以在電鏡內(nèi)對樣品同步進行加熱并施加電場

詳細介紹

可以在電鏡內(nèi)對樣品同步進行加熱并施加電場。利用這個系統(tǒng),可以觀察動態(tài)過程和場效應(yīng)協(xié)助的沉積反應(yīng)。

 

研究材料熱性能和電性能表征

分析結(jié)果與TEM & SEM成像以及其他分析工具相關(guān)聯(lián)

           PtCo 納米顆粒                                                AuAg 納米顆粒

           700 ℃                                                       EDS, 400 ℃

           圖片由美國橡樹嶺國家實驗室提供                             圖片由曼徹斯特大學(xué)提供

                          

           富勒烯                                                        鐵電體納米顆粒

           1200 ℃                                                       700 ℃

           圖片由CIC nanoGUNE提供                                      圖片由Dr. Matias Acosta提供

                         

           ZnO/Al2O3 纖維                                                Ti上Au納米顆粒

           750 ℃                                                        EBSD

           圖片由 Dr. Hessam Ghassemi提供                              圖片由JEOL USA提供

                           

       
       
             穩(wěn)定速度快 具有最小的位移

Fusion將新型低功率 E-chip™ 技術(shù)與采用特殊合金制成的樣品桿相結(jié)合來散熱。加熱實驗中實驗結(jié)果具有最小的熱漂移。溫度在幾百攝氏度范圍變化時熱漂移僅有幾納米,即使對樣品加熱及淬火過程進行放大倍率的觀察時,也可以很容易地對感興趣區(qū)域進行追蹤。 

             精確度&均勻性
溫度精確性來源于熱的均勻性。一個非均勻的加熱表面不具有單一溫度,因此不可能知道樣品的精確溫度。Fusion的陶瓷加熱技術(shù)將加熱器和樣品支撐區(qū)域集成到同一個薄膜上,該薄膜溫度均勻性優(yōu)于99.5%
             電學(xué)表征
TEM 與SEM中電學(xué)測試面臨的最基本挑戰(zhàn)是:表征納米尺度樣品的電學(xué)性能時所需的電流非常小。這些電流通常小于1 nA,并且必須被精確地加載和測量以確保結(jié)果的精確性。Fusion是一個的系統(tǒng),可提供幾pA的測量,靈敏度可達到aA。擁有30多種不同的電學(xué)芯片可供選擇,樣品支撐區(qū)域適用于每一種應(yīng)用。
             電熱性能表征

直至目前,根據(jù)電鏡內(nèi)溫度觀察并測量電性能是不可能的。電熱芯片具有一個含鎢電極的SiC加熱器,使得研究者能夠在高溫下進行這些實驗。電熱功能將Fusion加熱和電學(xué)模式結(jié)合到同一個易于操作的軟件界面,從而同時具備加熱和電學(xué)模式的所有功能及參數(shù)。

       

 

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