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GeminiSEM 掃描電子顯微鏡

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廣州司晨儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

為對任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生蔡司GeminiSEM系列產(chǎn)品具有出色的探測效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像

詳細(xì)介紹

為對任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生

蔡司 GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

■ 特點(diǎn)：

GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息，其創(chuàng)新設(shè)計(jì)的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時(shí)擁有在高真空模式下工作的感覺；
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設(shè)計(jì)、更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析，充當(dāng)您的得力助手；
GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)，使FESEM初學(xué)者也能快速掌握；

- GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時(shí)快速地獲取更高清晰度的圖像。

經(jīng)優(yōu)化和增強(qiáng)的Inlens探測器可高效地采集信號(hào)，助您快速地獲取清晰的圖像，并使樣品損傷降至更低；
在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度，二次電子圖像分辨率1 kV達(dá)0.9nm，500 V達(dá)1.0 nm，無需樣品臺(tái)減速即可進(jìn)行高質(zhì)量的低電壓成像，為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細(xì)節(jié)信息；
應(yīng)用樣品臺(tái)減速技術(shù)-（Tandem decel），可在1 kV下獲得高達(dá)0.8nm二次電子圖像分辨率；
創(chuàng)新設(shè)計(jì)的可變壓力模式-NanoVP技術(shù)，讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。

- GeminiSEM 450 更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析，簡便、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析，同時(shí)保持出色的空間分辨率，充當(dāng)您的得力助手。

在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像，在低電壓條件下工作時(shí)更為優(yōu)異；
可快速地對樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像；
經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒，減少了工作過程中進(jìn)行重新校準(zhǔn)的復(fù)雜流程，節(jié)省成像時(shí)間，提高工作效率；
無論是不導(dǎo)電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品，無論是高真空或是可變壓力模式，均可實(shí)現(xiàn)快速和高質(zhì)量的成像和分析；

- GeminiSEM 300 將讓您體驗(yàn)到在更高的分辨率和更佳的襯度下進(jìn)行極大視野范圍成像的樂趣，并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實(shí)現(xiàn)。

得益于高效的信號(hào)采集系統(tǒng)和優(yōu)異的分辨率性能，可實(shí)現(xiàn)快速、高質(zhì)量、無畸變的大范圍成像；
創(chuàng)新設(shè)計(jì)的高分辨率電子槍模式，為對磁性樣品、不導(dǎo)電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案；
蔡司獨(dú)樹一幟的鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器，在低電壓下也可輕松地獲得高質(zhì)量的樣品材料襯度圖像；
NanoVP技術(shù)讓您可以使用鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導(dǎo)電樣品進(jìn)行高靈敏度、高分辨成像。

■ 參數(shù)：

基本規(guī)格	蔡司 GeminiSEM 500	蔡司 GeminiSEM 450	蔡司 GeminiSEM 300
熱場發(fā)射電子槍，穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h
加速電壓	0.02 - 30 kV
探針電流	3 pA - 20 nA	3 pA - 40 nA	3 pA - 20 nA
	（100 nA配置可選）	（100 nA或300 nA配置可選）	（100 nA配置可選）
存儲(chǔ)分辨率	達(dá)32k × 24k 像素
放大倍率	50 – 2,000,000	12 – 2,000,000	12 – 2,000,000
標(biāo)配探測器	鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器
	樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測器
可選配的項(xiàng)目	鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器
	-	角度選擇背散射探測器	角度選擇背散射探測器
	環(huán)形STEM探測器（aSTEM 4）
	EDS能譜儀
	EBSD探測器(背散射電子衍射)
	NanoVP可變壓力模式
	高效VPSE探測器（包含在NanoVP可變壓力選件中）
	局部電荷中和器
	可訂制特殊功能樣品臺(tái)
	環(huán)形背散射電子探測器
	陰極射線熒光探測器