功能特征
ICT-33C集成電路測(cè)試儀:
可測(cè)1300種器件.
可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試,
器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,
EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入.
功 能 參 數(shù)
主要功能
器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。
器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。
器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
器件代換查詢:儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。
內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
EPROM、EEPROM器件讀入:ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入:ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。
可 測(cè) 器 件(1300多種)
CMOS40系列:103種。
CMOSMC140系列:103種。
CMOS45系列:60種。
CMOSMC145系列:60種。
光耦合器系列:133種。
TTL74/54系列:714種。
TTL75/55系列:82種。
數(shù)碼管系列:
0.5吋共陽(yáng)[001];共陰[002];0.3吋共陽(yáng)[003];共陰[004];0.7吋共陽(yáng)[005];共陰[006]。
常用RAM系列:
6 60256 628128
EEPROM系列:
2816 28256 28040 29101
EPROM系列:
2716 27128 27256 27512
微機(jī)外圍電路系列:
Z8OCTC(8O2)
常用單片機(jī)系列:
其他系列:
1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
