性能特點(diǎn):
Ø 日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測(cè)試儀(Microwave Dielectric Measurement System), 利用微波技術(shù)結(jié)合高Q腔以及3D電磁場(chǎng)模擬技術(shù),采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM,測(cè)量材料的高頻介電常數(shù),此方法保證了介電常數(shù)測(cè)量結(jié)果的**性。
Ø AET公司開發(fā)了二種共振腔:空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測(cè)試環(huán)境腔。
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。
印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測(cè)值偏低,。
Ø 日本AET 公司針對(duì)CCL/印刷電路板設(shè)計(jì)空洞共振腔測(cè)試裝置 , 只需裁成小長條狀即可量測(cè)**的復(fù)介電常數(shù)(Dk), 尤其是低損耗(Df)的樣品, 測(cè)量值非常精準(zhǔn)。
用于介電常數(shù)測(cè)試儀,介電常數(shù)分析,介電損耗測(cè)試,高頻介電常數(shù)測(cè)量。
技術(shù)參數(shù):
Ø 頻率范圍:1G~20GHz
Ø 同軸共振腔:
Ø 介電常數(shù)Epsilon:1~30,準(zhǔn)確度:+/-1%,
介電損耗tangent delta:0.05~0.0001,準(zhǔn)確度:+/-5%
應(yīng)用領(lǐng)域:
Ø 薄膜材料,半導(dǎo)體材料,電子材料(包括CCL和PCB),化學(xué)品,陶瓷材料,納米材料,光電材料等。
上海麥聚瑞電子儀器有限公司( My Dream Electronic Meter Co., Ltd.)是一家專業(yè)從事生產(chǎn).代理.經(jīng)銷儀器儀表.電子工具.配套設(shè)備的綜合性企業(yè)。
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