詳細(xì)摘要: PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程,測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí),測(cè)量過程無(wú)需接觸土壤表面,解決了測(cè)針法對(duì)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2023-06-10 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備