詳細(xì)摘要: 電子元器件高低溫沖擊測(cè)試箱對(duì)各種金屬、非金屬及復(fù)合材料進(jìn)行環(huán)境性能測(cè)試和分析研究,廣泛用于航天航空、石油化工、機(jī)械制造、車輛制造、
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2023-06-26 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備