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氣相色譜- 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

第4代AccuTOFGC系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn),升級(jí)為AccuTOFGCx!將在很多的領(lǐng)域?yàn)槟峁┓治鼋鉀Q方案

詳細(xì)介紹

第4代AccuTOF GC 系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn), 升級(jí)為AccuTOF GCx!

將在很多的領(lǐng)域?yàn)槟峁┓治鼋鉀Q方案。

通過精確質(zhì)量測(cè)試推測(cè)元素的組成，AccuTOF GCx 能長(zhǎng)時(shí)間且比較穩(wěn)定地進(jìn)行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準(zhǔn)確度的測(cè)試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍, 在同一譜圖內(nèi)不管是測(cè)試基峰還是小峰, 質(zhì)量準(zhǔn)確度都較高, 因此能較容易推測(cè)分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動(dòng)態(tài)范圍還能容易地對(duì)不同濃度的混合樣品進(jìn)行GC/MS 測(cè)試。

高分辨率

全氟

高質(zhì)量準(zhǔn)確度(不同濃度下的同一個(gè)離子峰)

八氟萘

長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性

八氟萘

高靈敏度

連續(xù)測(cè)試八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的積分面積標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算出儀器的檢出限(IDL)為16fg。

CV ：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 IDL ：儀器檢出限

寬質(zhì)量范圍用Direct TOFMS也能測(cè)試低聚物

AccuTOF GCx 不但具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進(jìn)樣系統(tǒng), 可以測(cè)試GC無法進(jìn)樣測(cè)試的大分子量樣品。

聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖

多種電離方法和進(jìn)樣技術(shù)FI 法和FD 法適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式

FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合于確認(rèn)分子量。

FI(Field Ionization ：場(chǎng)電離)法

通過GC 或標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。

CI 源需要依據(jù)待測(cè)對(duì)象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。

軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對(duì)容易碎片化的含氟化合物也檢測(cè)出了分子離子。

FD(Field Desorption ：場(chǎng)解吸)法

將樣品直接涂在發(fā)射體上。

很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。

很適合于可溶于非極性溶劑的樣品

能測(cè)試可以分散在溶劑中的粉末樣品

能測(cè)試低～中極性的金屬絡(luò)合物。

能分析一般GC/MS 無法測(cè)試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。

對(duì)難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。

EI/FI/FD 復(fù)合離子源(選配件)同一個(gè)離子源可以使用EI 法(硬電離方式)和I/FD 法(軟電離方式)。

可簡(jiǎn)單, 迅速地切換EI 和 FI/FD電離方式。

直接進(jìn)樣方式(選配件)

根據(jù)用途備有兩種直接進(jìn)樣桿

電離方法可以選擇EI 和CI。

DEP (Direct Exposure Probe)

適合高沸點(diǎn)化合物 / 熱不穩(wěn)定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲前端。

DIP (Direct Insertion Probe)

直接進(jìn)樣桿適合于高沸點(diǎn)化合物及不溶于溶劑的樣品。

固體樣品可以直接放入專門用的玻璃樣品管

EI 和FI 結(jié)合的定性分析對(duì)EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測(cè)出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過綜合來自EI和FI的信息，就可以進(jìn)行定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索，這種組合技術(shù)對(duì)于雜質(zhì)等未知成分的定性分析有效。

FI 法和FD 法適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式