詳細(xì)摘要: 近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM,是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡AFM結(jié)合使...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2023-02-11 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備