詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹:XQ20-GⅠ型激光平面干涉儀主要用于精密光學(xué)平面的平面度測量,光學(xué)平板的微小楔角測量,光學(xué)材料均勻性測量,配置相應(yīng)的工作臺可實施光學(xué)薄板波前誤差的測...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2022-09-12 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備