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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司


  • 棋盤測(cè)試圖卡幾何畸變卡

    詳細(xì)摘要: 水平方向的間隔315KHz(約2/25h),垂直方向的間隔900Hz的(約1/14h)。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-18 在線留言

  • 高精度棋盤測(cè)試圖卡幾何畸變卡

    詳細(xì)摘要: 這張測(cè)試圖在垂直方向上有7個(gè)25mm的類似棋盤型高精度LVT模塊。這張測(cè)試圖卡尺寸為8x10。?

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  • 畸變測(cè)試點(diǎn)圖幾何點(diǎn)畸變卡

    詳細(xì)摘要: 中型圖卡尺寸為24×36,XL圖卡尺寸為44×66。對(duì)于中型圖點(diǎn)的直徑尺寸為0.498(高有15個(gè)點(diǎn))和0.299直徑長(zhǎng)的小點(diǎn)(高25個(gè)點(diǎn))兩種。

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  • GRID/重合測(cè)試圖相機(jī)畸變卡

    詳細(xì)摘要: 測(cè)試圖在白色背景上有水平23個(gè)和垂直53個(gè)直線柵格。3個(gè)網(wǎng)格線從中間劃分外圍的3行網(wǎng)格。

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  • HDTV GRID/重合測(cè)試圖高清電視畸變卡

    詳細(xì)摘要: 該測(cè)試圖由分布在白色背景上的水平方向23個(gè)和垂直方向43個(gè)柵線形成的24x42個(gè)方格結(jié)構(gòu)組成。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-18 在線留言

  • 高清幾何畸變測(cè)試卡畸變卡

    詳細(xì)摘要: 大眾眼球:大約1/18h 1/36h

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  • 失真和色差測(cè)試卡十字幾何畸變卡

    詳細(xì)摘要: TE251設(shè)計(jì)用于測(cè)量數(shù)碼相機(jī)的失真。它包含在白色背景的黑十字架。

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  • 不連續(xù)網(wǎng)格失真畸變卡

    詳細(xì)摘要: TE248設(shè)計(jì)用于測(cè)量數(shù)碼相機(jī)的失真。它包含在白色背景上的黑線細(xì)小網(wǎng)格。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-18 在線留言

  • 點(diǎn)圖卡畸變測(cè)試圖卡

    詳細(xì)摘要: 其中一個(gè)有31行的點(diǎn)和其他15行的點(diǎn)。 它們可用于確定失真和色差。

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  • 重合測(cè)試圖畸變測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: 該測(cè)試圖設(shè)計(jì)用于確定在主R,G,B型號(hào)之間存在相對(duì)水平和垂直的偏移量。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 傾斜邊緣傾斜棋盤卡

    詳細(xì)摘要: TE261傾斜邊緣目標(biāo)在背景中有一個(gè)傾斜的棋盤,5個(gè)低對(duì)比度傾斜邊緣和前面的周圍灰色補(bǔ)丁。

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  • 棋盤測(cè)試圖鏡頭多功能棋盤測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: TE102測(cè)試圖被設(shè)計(jì)為檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 棋盤測(cè)試卡分辨率畸變測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: TE102測(cè)試圖被設(shè)計(jì)為檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 幾何(BALL)測(cè)試圖

    詳細(xì)摘要: T06測(cè)試卡被設(shè)計(jì)用來檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 棋盤測(cè)試圖幾何分辨率測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: T06測(cè)試卡被設(shè)計(jì)用來檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 幾何(BALL)測(cè)試卡畸變卡

    詳細(xì)摘要: 測(cè)試圖設(shè)計(jì)用于測(cè)量的攝像機(jī)和監(jiān)視器的幾何形狀。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • 攝像機(jī)幾何校準(zhǔn)測(cè)試卡畸變卡

    詳細(xì)摘要: 它由中心一個(gè)大圓和周圍的八個(gè)位圈。且在9個(gè)位置有臥式/立式分辨率楔子。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-17 在線留言

  • CCD重合測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: CCD傳感器建成垂直行像素。這些垂直行將干擾通用型定位圖的垂直線。

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  • 混疊測(cè)試圖走樣畸變測(cè)試卡

    詳細(xì)摘要: TE173專門用于測(cè)量走樣?;殳B效應(yīng)是兩個(gè)位圖的波紋扭曲造成的干擾。

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  • 棋盤卡ISO-16505-CB

    詳細(xì)摘要: 此高對(duì)比度“棋盤"(棋盤格)目標(biāo)用于根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)概述的規(guī)格測(cè)量失真和放大率。

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-09-16 在線留言

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