礦石分析儀

EDX 5500B X射線熒光分析儀是利用XRF技術(shù)解決復雜成份中元素的快速、準確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率；采用SDD硅漂移探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術(shù)使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。

臺式X射線熒光分析儀 能量色散EDX光譜儀的型號：EDX 5500B

X光管：Rh靶材；50W；

高壓：50KV；1mA

探測器：SDD（硅飄移探測器）

配置真空裝置，包括真空泵

測試元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等

X射線熒光分析儀的基本原理：

當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關(guān)。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關(guān)系。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學意義表達如下：

λ=K(Z-s)-2

這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進行元素定性分析和定量分析

產(chǎn)品技術(shù)指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

同時分析元素：24種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量至0.005微米，可分析5層以上的鍍層

分析精度：0.05%

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

測量時間：60s—200s

能量分辨率為：（150±5）eV

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

標準配置

單樣品真空腔體

計算機、打印機

SDD硅漂移探測器

信噪比增強器

光路增強系統(tǒng)

內(nèi)置高清晰攝像頭

可自動切換型準直器和濾光片

精準的升降平臺

加強的金屬元素感度分析器

真空泵（可選）

壓片機（可選）

工作環(huán)境：

1、設(shè)備合理的工作環(huán)境，首先是不要在有電機、振動、電磁、高壓或有高頻率燒電焊器的地方安裝設(shè)備，這樣會干擾我們設(shè)備或造成設(shè)備不能正常工作。

2、溫度：恒溫在250C左右，范圍超過10C以上影響大，所以要在溫度適合的地方做測試。建議采用空調(diào)房。

3、濕度：要在濕度均衡的地方做測試。不能超過90%的濕度。

4、灰塵容易腐蝕電路板，所以設(shè)備要保持干凈，工作室也同樣要保持干凈。

5、雷電天氣應關(guān)掉電源，因為閃電會直接影響設(shè)備的正常運作。

應用領(lǐng)域：

金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測?？蓮V泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。

RoHS檢測分析、鹵素檢測分析、玩具皮革等八大重金屬測試

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析

金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定

土壤中元素含量分析

水泥元素分析

固危廢中的P、S、Cl以及重金屬分析

油品中硫含量分析

各種有色金屬合金、冶煉品，礦渣，爐料的分析

非金屬氧化物、石灰石、鈦白粉等復雜材料的分析