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智能卡動態(tài)彎扭試驗機(jī) 詳細(xì)摘要: 智能卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)?用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
產(chǎn)品型號:HY(IC) 所在地:上海市 更新時間:2018-09-11 參考價: 面議 在線留言
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詳細(xì)摘要: 智能卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)?用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
產(chǎn)品型號:HY(IC) 所在地:上海市 更新時間:2018-09-11 參考價: 面議 在線留言