產(chǎn)品展示
CMI165牛津CMI165面銅測厚儀
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
CMI165面銅測厚儀可測試高溫的PCB銅箔- 顯示單位可為mils,μm或oz- 可用于銅箔的來料檢驗(yàn)- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試- 配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
SRP-T1:CMI165可更換探針
CMI165面銅測厚儀探頭采用由牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭,綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù),使其成為世界上推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測厚儀的制造商。
CMI165面銅測厚儀技術(shù)參數(shù):
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銅厚測量范圍 | 非電鍍銅 | (0.25~12.7) μm, (0.01~0.5) mils |
電鍍銅 | (0.25~245) μm, (0.01~10) mils | |
精度 | ( 0.01~10 mils0.08@20 μm;0.0031@0.79mils) | |
線性銅線寬 | 8mils |
正業(yè)科技是牛津總代理商,主要代理CMI165面銅測厚儀,CMI700孔面銅測厚儀,CMI500孔銅測厚儀,CM95銅箔測厚儀等儀器,咨詢。
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