X-Strata920牛津XRF鍍層測厚儀X-Strata920
【簡單介紹】
【詳細說明】
XRF鍍層測厚儀X-Strata920可應(yīng)用于PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院校??蓽y元素:鈦Ti22---鈾U92間各元素,同時可測量5層鍍層的厚度。且能在10秒內(nèi)可得出測量結(jié)果
XRF鍍層測厚儀X-Strata920:是牛津儀器發(fā)布的新一代鍍層測厚儀;是CMI900的升級換代產(chǎn)品;在CMI900基礎(chǔ)上,改進了系統(tǒng)安全部件、系統(tǒng)軟件進行了更新、測量結(jié)果進行多樣化的輸出;是X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀;具有非破壞、非接觸、無損測量;一鍵定焦,有效避免人為操作誤差;快速簡潔,僅需10秒即可得出測量結(jié)果。適用于大多數(shù)行業(yè),是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的*檢測工具。
XRF鍍層測厚儀X-Strata920應(yīng)用行業(yè):
PCB、FPC、LED、連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院校。
XRF鍍層測厚儀X-Strata920工作原理:
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線,通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度,鍍層測厚儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
XRF鍍層測厚儀X-Strata920特點:
可測元素:鈦Ti22---鈾U92間各元素;
可測鍍層:5層鍍層(含基材層),15種元素共存校正;
測量時間約10秒,快速得出測量結(jié)果;
測量結(jié)果精確到微英寸;
測量結(jié)果報告可包含:數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片、各種統(tǒng)計報表、客戶信息;
提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評價);
提供NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片;
享有的服務(wù)與支持。
測厚范圍:
取決于具體的應(yīng)用。
測量精度:
膜厚≤20µin(0.5um)時,測量誤差值為:*層±1µin,第二層±2µin,第二層±3µin
膜厚>20µin(0.5um)時,測量誤差值為:*層±5%,第二層±10%,第二層±15%
牛津生產(chǎn)XRF鍍層測厚儀X-Strata920可檢測多層鍍層元素的厚度,同時也可以分析鍍層金屬元素的成分
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