磁性測(cè)厚儀
型號(hào):QUC-200
突出優(yōu)勢(shì)
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T1764-89,GB/T13452.2-92,ISO2808-74本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。工作原理
技術(shù)參數(shù)
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T1764-89,GB/T13452.2-92,ISO2808-74本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù):
測(cè)定范圍:0-500μm
測(cè)量精度:40μm以下±2μm 40μm以上±5%