對(duì)于此靜電破壞試驗(yàn)，只需利用1 臺(tái)弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡(jiǎn)單實(shí)行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有，可用選件中的精密型支架可對(duì)超細(xì)密間距元件做半自動(dòng)的試驗(yàn)。
*適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。
精密型支架
可做*高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)（ESS-6008）
可做出留有余量的試驗(yàn)
可對(duì)各種間距的受測(cè)元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)
可搭配精密測(cè)臺(tái)，以半自動(dòng)（Y 軸）的腳位移動(dòng)而正確的對(duì)待
測(cè)物施加靜電
可做*低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)（ESS-6002）
對(duì)于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評(píng)價(jià)可從10V 開始以1V 的步長(zhǎng)予施加
可對(duì)應(yīng)規(guī)格
ESS-6002/6008 半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器
特征考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時(shí)，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動(dòng)作的現(xiàn)象。
對(duì)于此靜電破壞試驗(yàn)，只需利用1 臺(tái)弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡(jiǎn)單實(shí)行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有，可用選件中的精密型支架可對(duì)超細(xì)密間距元件做半自動(dòng)的試驗(yàn)。
*適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。
精密型支架
- 可做*高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)（ESS-6008）
- 可做出留有余量的試驗(yàn)
- 可對(duì)各種間距的受測(cè)元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)
- 可搭配精密測(cè)臺(tái)，以半自動(dòng)（Y 軸）的腳位移動(dòng)而正確的對(duì)待
- 測(cè)物施加靜電
- 可做*低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)（ESS-6002）
- 對(duì)于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評(píng)價(jià)可從10V 開始以1V 的步長(zhǎng)予施加
- 可對(duì)應(yīng)規(guī)格
對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)
| 人體模型試驗(yàn) (HBM) | 機(jī)械模型試驗(yàn) (MM) |
| AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 | AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003 |
| ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 | ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999 |
| IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002 | IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002 |
| IEC 60749-26 Ed.1.0 2003 | IEC 60749-27 Ed.1.0 2003 |
| JEDEC JESD22-A114E Jan 2007 | JEDEC JESD22-A115A Oct.1997 |
| JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 | JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 |
| MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989 |
規(guī)格半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器 (ESS-6002/ESS-6008)
項(xiàng)目 | 功能/性能 | |
| ESS-6002 | ESS-6008 | |
| 輸出電壓 | 10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進(jìn) | 100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進(jìn) |
| 輸出極性 | 正或負(fù) | |
| 重復(fù)周期 | 0.3～99s±10％ 到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn) | |
| 放電次數(shù) | 1～99次/連續(xù) | |
| Automatic output voltage ramping | Available | |
| 尺寸 | （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分） | |
| 尺寸 | 約6kg | |
簡(jiǎn)易型探針臺(tái) <18-00075A>
| 項(xiàng)目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量（探針臺(tái)主機(jī)） | (W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg |
| 尺寸/重量（簡(jiǎn)易放電板） | (W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g |
| 鉗口尺寸 | 110mm |
| 其他 | POM造V型部件1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)附件 |
半自動(dòng)精密型探針臺(tái) <18-00076A>
由于半自動(dòng)精密型探針臺(tái)的*小分辨率為0.01mm，所以可以簡(jiǎn)單地對(duì)毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗(yàn)
| 項(xiàng)目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量 | (W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg |
| 可對(duì)應(yīng)IC | *大尺寸：40mm角 *小導(dǎo)線間距：0.4mm |
| X軸 | 手動(dòng) 移動(dòng)量：20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿 |
| Y軸 | 電動(dòng)（*大速度：13mm/s）移動(dòng)量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿 |
| θ軸 | 手動(dòng) 移動(dòng)量：360° |
| Z axis | 手動(dòng) 移動(dòng)量：20mm *內(nèi)置彈簧下壓式 |
| 回原點(diǎn) | 手動(dòng) |
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