一、儀器簡介

Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是激光散射+顯微圖像二合一的粒度粒形分析儀，測量下限達0.01μm，測量上限達到3500μm，提高了粗顆粒端的測量精度。同時對激光法數(shù)據(jù)和圖像法數(shù)據(jù)進行融合，得出更加準確的粒度測試結果，得出粒形分析信息（圓形度、長徑比等）。該儀器還采用樣品折射率測量技術，對未知折射率的新材料也能得到精確的粒度測試結果。本儀器采進口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時；采用進口的高精度透鏡組，保證了微弱的、各角度的散射光信號無一漏網(wǎng)；采用進口的高速CCD與高像遠心鏡頭，成像清晰無拖尾現(xiàn)象；采用高速顆粒識別技術，每分鐘可分析幾萬個顆粒數(shù)目?？傊?，該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。

二、主要技術指標及參數(shù)

測量范圍：0.01-3500um

進樣方式：自動循環(huán)分散進樣系統(tǒng)

激光光源：半導體激光器

準確性誤差：≤0.5%（國際標樣D50偏差）

重復性誤差：≤0.5%（國際標樣D50偏差）

散射角度：0.02-165度

折射率測量范圍：1.4-3.6

測量原理：米氏散射理論

測量方式：全自動測量（SOP）

圖像分析范圍：4-3500um

進口高速CCD：120幀/秒

遠心成像系統(tǒng)：放大倍數(shù)20-100倍

自動化控制：自動對中、自動進水、自動測試與清洗

超聲波分散：防干燒型，50W，38KHz

三、應用領域

1. 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。

2. 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。

3. 其它粉體：河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種乳濁液等。

四、重復性好的原因

1. 穩(wěn)定有效的分散系統(tǒng)。

2. 激光器、探測器、信號傳輸系統(tǒng)穩(wěn)定可靠。

3. 自動對中系統(tǒng)使儀器始終保持在較佳狀態(tài)。

4. 采樣速度達3500次/秒，大量數(shù)據(jù)有效減少少數(shù)異常數(shù)據(jù)的影響。

五、準確性好的原因

1. 采用百特發(fā)明的雙鏡頭光學系統(tǒng)，大大提升了測量精度。

2. 探測器數(shù)量達96個，高性能的軟件，無論樣品是單峰、雙峰還是多峰都能準確自動測試。

3. 完善的樣品制備系統(tǒng)，包括循環(huán)、超聲波分散、攪拌、自動進水、自動排水和自動清洗。

4. 通過標準樣品驗證，結果與標稱值一致。