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球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海維翰光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/12/12 10:01:38
  • 訪問次數(shù)440
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上海維翰光電科技有限公司是一家擁有技術(shù)、經(jīng)營和管理人才隊(duì)伍,著重發(fā)展光學(xué)、精密機(jī)械、計(jì)算機(jī)相結(jié)合的(光、機(jī)、電一體化)光學(xué)儀器的開發(fā)、生產(chǎn)和銷售,具備較強(qiáng)的市場(chǎng)開拓能力、光機(jī)電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開發(fā)制造能力公司主要經(jīng)營自主研發(fā)產(chǎn)品有:工具顯微鏡,測(cè)量顯微鏡,生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,偏光顯微鏡,熒光顯微鏡,相襯顯微鏡,讀數(shù)顯微鏡,檢測(cè)顯微鏡,電子視頻顯微鏡,干涉顯微鏡,數(shù)碼顯微鏡、測(cè)量投影儀、 光學(xué)投影儀、工業(yè)投影儀、影像測(cè)量儀、顯微成像系統(tǒng)、光學(xué)計(jì)量儀器、物理光學(xué)儀器(偏光熔點(diǎn)儀,分光光度計(jì),阿貝折射儀)、綜合光學(xué)測(cè)量儀器(干涉顯微鏡,激光平面干涉儀,透鏡中心儀,平面平晶,標(biāo)準(zhǔn)線紋尺,測(cè)角儀,自準(zhǔn)直儀,平行光管,內(nèi)調(diào)焦望遠(yuǎn)鏡 )金相設(shè)備(拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、切割機(jī)、磨拋機(jī)).硬 度 計(jì)(洛氏,布氏,維氏,里氏),顯微硬度計(jì),塑料硬度計(jì),橡膠硬度計(jì),鉗式硬度計(jì)。等光學(xué)儀器及顯微測(cè)量軟件和光學(xué)儀器配件公司同時(shí)代理國外品牌儀器并長期以來與其有著良好的合作關(guān)系,是NIKON生物顯微鏡以及OLYMPUS工業(yè)顯微鏡特約合作伙伴,公司有專業(yè)的銷售及售后服務(wù)團(tuán)隊(duì),能為用戶提供完善的解決案和系統(tǒng)的培訓(xùn)。廣泛應(yīng)用于農(nóng)牧、輕工、機(jī)械、電子、冶金、化工等行業(yè);衛(wèi)生、教育、國防等部門及各大專院校、科研單位
偏光熔點(diǎn)儀
產(chǎn)品說明: Hitachis日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM:成像分辨率和分析性能的完*結(jié)合 在單個(gè)物鏡配置中,STEM可實(shí)現(xiàn)0.078 nm的空間分辨率,并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測(cè)器...
球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000 產(chǎn)品信息
 Hitachi's日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM:成像分辨率和分析性能的完*結(jié)合 在單個(gè)物鏡配置中,STEM可實(shí)現(xiàn)0.078 nm的空間分辨率,并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測(cè)器。 將這些積累的技術(shù)整合到一個(gè)新的200 kV TEM / STEM平臺(tái)中,可以使儀器具有亞Å成像和分析的*佳組合,并具有靈活性和*特的能HF

 
Hitachi's日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM:成像分辨率和分析性能的完*結(jié)合
在單個(gè)物鏡配置中,STEM可實(shí)現(xiàn)0.078 nm的空間分辨率,并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測(cè)器。
將這些積累的技術(shù)整合到一個(gè)新的200 kV TEM / STEM平臺(tái)中,可以使儀器具有亞Å成像和分析的*佳組合,并具有靈活性和*特的能HF5000以日立HD-2700專ySTEM的功能為基礎(chǔ),包括日立自己的全自動(dòng)像差校正器,對(duì)稱雙SDD EDX和Cs校正的SE成像。 它還結(jié)合了HF系列中開發(fā)的xian進(jìn)TEM / STEM技術(shù)。
 
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)
2.搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場(chǎng)FE電子槍
3.鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升
4.觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像
5.采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿
6.支持高立體角EDX*的對(duì)稱配置(對(duì)稱Dual SDD*)
7.采用*新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋
8.配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*
 
高輝度冷場(chǎng)FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器
以長年積累起來的高輝度冷場(chǎng)FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ),進(jìn)行優(yōu)化,進(jìn)yi步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外,還更新了鏡體,電源系統(tǒng)和樣品臺(tái),以支持觀察亞Å圖像,并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性,然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭,而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正,從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。

 
Si(211)單晶體HAADF-STEM圖像(左)和圖像強(qiáng)度曲線分布(右下)、FFT功率譜(右上)
支持高立體角EDX*的對(duì)稱Dual SDD*
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測(cè)器,以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。
由于第er檢測(cè)器位于第*檢測(cè)器的對(duì)面位置,因此,幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜,導(dǎo)致X射線中的信號(hào)檢測(cè)量發(fā)生變化。所以,即使是結(jié)晶性樣品,也不用顧忌信號(hào)量,可*全按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
此外,對(duì)于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品,除了原子列映射,在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有x。

 
GaAs(110)的原子柱EDX映射
像差校正SEM圖像/STEM圖像 同時(shí)觀察
配有標(biāo)配er次電子檢測(cè)器,可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中,除了可以通過校正球差來提高分辨率之外,還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。

Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像(上段)和Au粒子的高分辨率圖像(下段)


技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 內(nèi)容
電子源 W(310)冷陰極場(chǎng)發(fā)射型
加速電壓 200 kV、60 kV*1
圖像分辨率 STEM 0.078 nm(ADF-STEM圖像)
TEM 0.102 nm(晶格像)
倍率 STEM ×20~×8,000,000
TEM ×100~×1,500,000
樣品微動(dòng) 樣品臺(tái) 偏心測(cè)角儀(Eucentric Goniometer)5軸樣品臺(tái)
樣品尺寸 3 mm Φ
移動(dòng)范圍 X, Y=±1.0 mm,Z=±0.4 mm
樣品傾斜 α=±25°、β=±35°(日立2軸傾斜樣品桿*1
像差校正器 配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器(標(biāo)配)
圖像顯示 PC Windows® 7 *2
顯示器 27英寸寬屏液晶顯示器(機(jī)體控制顯示器、第er顯示器*1
攝像頭 標(biāo)配伸縮式攝像頭
屏幕攝像頭*1(用于熒光板觀察)

 

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