當前位置：深圳市金東霖科技有限公司>>膜厚測試儀>>鍍層膜厚測試儀>>半導體美國膜厚儀

半導體美國膜厚儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)代理商

所在地深圳市

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

包裝印刷網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2017-01-19 16:29:09瀏覽次數(shù)：1810次

聯(lián)系我時，請告知來自包裝印刷網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  膜厚測試儀

鍍層膜厚測試儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

深圳市金東霖科技有限公司

經(jīng)營模式：代理商

商鋪產(chǎn)品：35條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：舒翠（業(yè)務）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

半導體美國膜厚儀采用新改進的基本參數(shù)法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。

詳細介紹

半導體美國膜厚儀產(chǎn)品特點：
可檢測元素范圍：AL13 – U92.可同時測定5層/15種元素/共存元素校正.結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。
電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。
探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。
有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。
您可以針對您的應用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。
一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。
大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

半導體美國膜厚儀
是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
采用新改進的基本參數(shù)法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。
可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。