鍍金鍍銅鎳金膜厚儀軟件包括 :
(1)X射線部件的操作
(2)控制整個測量過程
(3)*的基本參數法可進行無標準片測量
(4)用受認證的標準片進行校準,可以完成有標準片調校的測量
(5)可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度
(6)按照元素波峰進行自動元素識別
(7)測量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
(8)客戶自定義報表工具
鍍金鍍銅鎳金膜厚儀
是利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。
采用新改進的基本參數法,無論是無標準片測量還是有標準片測量,都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置,X射線源和數字半導體接收器置于了 BA100 的底部,從而可以采用射線向上的測量技術。
可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。