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博曼x射線熒光膜厚儀

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更新時間：2017-01-08 00:25:25瀏覽次數：484次

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產品簡介

博曼x射線熒光膜厚儀采用新改進的基本參數法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置，X射線源和數字半導體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。

詳細介紹

博曼x射線熒光膜厚儀軟體說明：
* 電腦操作系統 XP系統
* 測量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號元素間的所有鍍層，
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次，zui多可以測量四層（加基材zui多五層）
* 儀器支持二種鍍層厚度計算方法
（1）、無標準片的FP法（Fundamental Parameter）全新數學計算方法。
FP法名詞解釋：即在沒有標準塊的前提下，一樣能精確測量，此方式是通過儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過各無素能量信號的強弱或設定的各無素比例參數，以一種數學的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊，因此它不受標準塊的限制，在沒有各種合金鍍層標準塊的情況下樣精確的測量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實現此種新型測試技術的膜厚測量品牌，此技術已使用了17年。
（2）、支持傳統的帶標準塊的檢量線法，即通過鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。

博曼x射線熒光膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
采用新改進的基本參數法，無論是無標準片測量還是有標準片測量，都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置，X射線源和數字半導體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。
可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。