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貴金屬礦檢測的核心痛點(diǎn)

1. 含量極低：

• 巖金礦：Au常為1-10 g/t（≈1-10 ppm）

• 砂金礦：可能低至0.1 g/t

• 鉑族元素（Pt、Pd等）：多低于1 ppm

2. 干擾因素多：

• 共生礦物（如黃鐵礦包裹金）

• 基體效應(yīng)（銅銀共生礦中的信號重疊）

手持式XRF光譜儀

野外快速篩查金礦（Au）、銀礦（Ag）等，檢測限通常為5~50 ppm。

無法直接檢測鉑族元素（如Pt、Pd需高性能型號）。

便攜、無損、速度快（10秒/點(diǎn)）。

操作避坑指南

1. 樣品制備：

• XRF檢測面需打磨至400目以上

• 避免使用含鉛拋光劑（干擾Au信號）

2. 校準(zhǔn)驗(yàn)證：

• 每日用標(biāo)樣（如GSA-8A金礦標(biāo)樣）校準(zhǔn)

• 當(dāng)檢測值接近設(shè)備檢出限，必須實(shí)驗(yàn)室復(fù)檢

3. 數(shù)據(jù)解讀：

• 手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾（常見于銻金礦）