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SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備上，這些光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對光傳感器的光感測性能要求...

Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)...

GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。

GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、R...

硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。GP200擁有穩(wěn)定且...

GP半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案?？蓱?yīng)用于I-V/C-V/...

大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測試更加簡單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。

Keysight B1500A半導(dǎo)體測試設(shè)備, 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀，能夠測量 IV、CV、脈沖/動(dòng)態(tài) IV 等參數(shù)。 主機(jī)和插入式模塊能...

N5290A和N5291A 是毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）解決方案的主要配置之一。 這兩個(gè)系統(tǒng)均對硬件和選件進(jìn)行了全面配置，以支持寬帶S參數(shù)測量。附加測量應(yīng)用...

是德科技功率器件分析儀B1506A提供完整的電路設(shè)計(jì)解決方案，實(shí)現(xiàn)對車規(guī)級大功率半導(dǎo)體的高效安全的測試驗(yàn)證。

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