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北京瑞科中儀科技有限公司
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掃描電子顯微鏡SEM
  • 掃描電子顯微鏡SEM
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更新時間:2025-04-12 21:00:06

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簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS amp; WDC)接口,另有用于高級形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個全新的水準(zhǔn)。

掃描電子顯微鏡SEM

蔡司掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡,為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。

  標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口,另有用于高級形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個全新的水準(zhǔn)。

  掃描電鏡的五象限背散射電子探測器(BSE)有助于增強(qiáng)低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對于非導(dǎo)電樣品,電子束襯管技術(shù)可有效提高分辨率。

  學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì),具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM 軟件的易用性,使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選,范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。

  特點(diǎn)優(yōu)勢

  • 業(yè)內(nèi)的X射線幾何結(jié)構(gòu)以及標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDS)

  • 五象限背散射電子探測器(BSE)為您提供更豐富的形態(tài)信息

  • 可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品

  • 可移動的顯微鏡樣品臺用于觀察大型樣品

  • 配備鎢光源和可供選擇的LaB6 光源

  • 優(yōu)質(zhì)的生產(chǎn)工藝,曾榮獲2011年英國*佳電子電氣工廠獎以及歐特克產(chǎn)品與工藝大獎

蔡司掃描電鏡

掃描電鏡(圖3)

掃描電鏡(圖4)

掃描電鏡(圖5)

掃描電鏡(圖6)

 


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