LET-5000半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)-云帆興燁

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產品型號LET-5000

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更新時間：2024-12-01 20:50:44瀏覽次數(shù)：21次

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產品簡介

LET-5000半導體測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。

詳細介紹

半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

LET-5000半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。

LET-5000 半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)能在 3kV（可擴展為 10kV）和 2200A 的條件下實現(xiàn)精確測量、分析功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù)。LET-5000 具有快脈沖能力，以及亞 pA 級電流檢測能力，并具有優(yōu)異的寬電壓和電流測量能力。

被測對象及主要測試參數(shù)

被測對象	主要測試參數(shù)
分立器件	Id-Vg，Id-Vd，Ic-Vc,二極管
雙極	Ic-Vc、二極管、Gummel 圖、擊穿、hfe、電容
Coms	Id-Vg、Id-Vd、Vth、擊穿、電容、QSCV等
內存	Vth、電容、耐久測試等。
MOSFET	Id-Vds,Rds-Id,Id-Vgs,電容
IGBT	Ic-Vce，Ic-Vge,Vce(sat),Vth Vge(off),擊穿
太陽能電池	I-V、Cp-V、奈奎斯特圖、DLCP 等。
納米器件	電阻、Id-Vg、Id-Vd、Ic-Vc等。
GaN	FET 電流衰減、Id-Vds 電流衰減、二極管電流