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萊森光學（深圳）有限公司
萊森光學（深圳）有限公司
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更新時間：2024-11-29 10:29:23瀏覽次數(shù)：25次
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LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）一款具有革命性寬光譜微型光譜儀，采用了進口核心光譜模塊，控制電路采用微處理技術(shù)，實現(xiàn)雙通道同步測量技術(shù)，真正意義上實現(xiàn)了200-2500nm全光譜測量，200-1000nm采用了2048像素面陣BT-CCD探測器，紫外可見量子效率高85%，900-1700/1000-2500nm采用了大靶面致冷或非致冷型256/512像元InGaAs 探測器，動態(tài)范圍大、靈敏度高，同時采用紅外熱像素漂移校準，保證光譜在紅外波段受外界熱環(huán)境影響小，測試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定性。
LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）一款具有革命性寬光譜微型光譜儀，采用了進口核心光譜模塊，控制電路采用微處理技術(shù)，實現(xiàn)雙通道同步測量技術(shù)，真正意義上實現(xiàn)了200-2500nm全光譜測量，200-1000nm采用了2048像素面陣BT-CCD探測器，紫外可見量子效率高85%，900-1700/1000-2500nm采用了大靶面致冷或非致冷型256/512像元InGaAs 探測器，動態(tài)范圍大、靈敏度高，同時采用紅外熱像素漂移校準，保證光譜在紅外波段受外界熱環(huán)境影響小，測試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定性。
LiSpec-UVIR系列光譜儀搭配積分球使用 LiSpec-UVIR系列光譜儀搭配余弦探頭使用
LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀可根據(jù)用戶應用需求配置萊森光學不同的光學附件，透反射測量需要配置萊森光學的紫外增強鹵燈光源、光纖、準直鏡頭、透射/反射積分球，對于輻射測量需要配置積分球或余弦輻射探頭或視場角鏡頭進行輻射通量μW、輻亮度μW/cm2/sr、輻照度μW/cm2（光譜儀帶積分球或余弦輻射探頭或視場角鏡頭輻射標定溯源到NIM）。
拉曼測量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會更弱一個數(shù)量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進行表面拉曼增強（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。
萊森光學的光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進行對微弱光譜信號的拉曼測量應用，廣泛應用于食品安全、化學實驗室、生物及醫(yī)學等光學方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認；還可以應用于刑偵中對的檢測及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。
輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標準。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標準光源，對光譜儀系統(tǒng)進行輻射標定，才能通過量化參數(shù)進行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關(guān)聯(lián)（光度學），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測量定義輻射度學參數(shù)、光度學參數(shù)、色度學參數(shù)。輻射度學參數(shù)主要以輻照度μW/cm2、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數(shù)µMol/s/m2，µMol/m2，µMol/s和µMol，光度學參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強度Candela，色度學參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等。
輻照度測量
LED顏色測量
光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強度要高于透過樣品的光強。吸光度被廣泛運用于液體和氣體的光譜測量技術(shù)中，可以對物質(zhì)進行定量鑒別或指紋認證等，還可以將該應用集成到工業(yè)應用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測試中。
使用萊森光學模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實驗室或者現(xiàn)場，對整套光學測量裝置進行快速配置?？梢曰谌R森光學優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗搭配出多種配置選擇。
液體吸光度
吸光度測量（比色皿）
吸光度測量（光纖探頭）
氣體吸光度
薄膜測量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學函數(shù)被計算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達1 nm。薄膜測量應用于半導體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。
隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴格，利用光纖光譜儀進行快速準確的透/反射光譜的測量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等設(shè)備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會演化為更多的形式。
光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點，已經(jīng)成功的廣泛應用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測試。萊森光學為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。
反射測量
反射測量（探頭）
反射測量（積分球）
透射測量
熒光物質(zhì)在特定波長的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射，且一般都是在各個方向上輻射能量的散射光。熒光光譜測量產(chǎn)生的熒光能量比激發(fā)光的光子能量小，只相當于激發(fā)光能量的3%左右，其靈敏度高、選擇性強、樣品用量少、方法簡便、具備環(huán)保性。在食品加工過程中食品安全的監(jiān)測、生物醫(yī)學中病變的熒光診斷、地質(zhì)學中石油礦物勘探、土壤礦物成分的測定以及物質(zhì)中微量元素的檢測等工程應用中有著廣泛的應用。萊森光學光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設(shè)計，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測量系統(tǒng)。
熒光測量（液體）
熒光測量（粉末、固體）
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