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佳譜儀器（蘇州）有限公司
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更新時(shí)間：2025-01-10 10:33:50瀏覽次數(shù)：18次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 包裝印刷網(wǎng)R-650 在傳統(tǒng) RoHS 檢測(cè)儀的基礎(chǔ)上，更新了88位自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)，結(jié)合了的準(zhǔn)確性和可靠性以及直觀的用戶體驗(yàn)，大大提高了產(chǎn)品檢測(cè)效率，提供專業(yè)的元素分析解決方案，助力多個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展。
R-650 具有制樣簡(jiǎn)單、分析速度快、分析含量范圍廣、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn)，其在傳統(tǒng) RoHS 檢測(cè)儀的基礎(chǔ)上，更新了88位自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)，結(jié)合了的準(zhǔn)確性和可靠性以及直觀的用戶體驗(yàn)，大大提高了產(chǎn)品檢測(cè)效率，提供專業(yè)的元素分析解決方案，助力多個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展。
技術(shù)規(guī)格
樣品腔尺寸 | 400mm×340mm×80mm |
真空樣品腔尺寸 | φ100mm×h75mm |
外觀尺寸 | 700mm×510 mm×336mm |
整機(jī)重量 | 56kg |
它配備了88位超大自動(dòng)進(jìn)樣平臺(tái)，每個(gè)樣品位均做了數(shù)字標(biāo)示，靈活的機(jī)械臂，自動(dòng)開(kāi)合真空倉(cāng)。可自主選擇測(cè)樣流程及工作曲線，一次性批量制樣后可自動(dòng)連續(xù)不間斷取樣測(cè)樣，不僅降低了測(cè)樣成本,還大大提高了測(cè)樣效率。
性能及原理特點(diǎn)
元素分析范圍 | 鈉(Na) ~ 鈾(U) |
分析范圍 | ppm-99.99% |
探測(cè)器 | 美國(guó)Amptek硅漂移SDD |
測(cè)量狀態(tài) | 粉末、固體、液體 |
準(zhǔn)直濾光系統(tǒng) | 準(zhǔn)直器+多組合濾光片 |
分辨率 | 129eV±5eV |
分析時(shí)間 | 單次測(cè)試時(shí)間可調(diào) |
制冷方式 | 電制冷，無(wú)需任何耗材 |
分析精度 | RSD≤0.05%（國(guó)標(biāo)標(biāo)樣）含量大于96%的樣品 |
樣品環(huán)境 | 大氣狀態(tài)/真空狀態(tài) |
工作電源 | AC 220V ±5V、50Hz |
元素分析能力 | 一次性可測(cè)從鈉（Na）到鈾（U）之間幾十種元素 |
工作環(huán)境 | 室內(nèi)溫度 15～30℃;相對(duì)濕度 ≤80% （不結(jié)露） |
功能優(yōu)勢(shì)
2 外形設(shè)計(jì):大方美觀、堅(jiān)固耐用、多重安全防護(hù)模式。
2 準(zhǔn)直濾光系統(tǒng):準(zhǔn)直器+多組合濾光片，軟體自動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試應(yīng)用。
2 采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)(數(shù)字多道)，有效提高峰背比，讓測(cè)量更精準(zhǔn)。
2 多維散熱系統(tǒng):優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到更大提高，確保X射線源的運(yùn)行安全。
2 輻射安全系統(tǒng):多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品。
2 真空系統(tǒng):選擇抽真空系統(tǒng)，優(yōu)化測(cè)試環(huán)境，提高鎂鋁硅磷硫等輕元素的分析精度，大大擴(kuò)展R-650型分析儀的分析能力。
2 的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的安全可靠運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本。
硬件優(yōu)勢(shì)
探測(cè)器
| 原裝美國(guó)Amptek硅漂移SDD探頭，分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，高峰背比 |
X射線管 | :功率50W、管電壓5-50KV、管電流0-1000uA;長(zhǎng)壽命X射線管(可切換Rh，Ag，W)。 |
高壓電源 | 功率50 W、電壓0-50 KV、電流0-1000uA，8小時(shí)穩(wěn)定性≤0.05%。 |
信號(hào)處理器 | 采用進(jìn)口信號(hào)處理器，適應(yīng)高分辨率和高計(jì)數(shù)率，自調(diào)放大倍數(shù)，道數(shù):4096。 |
測(cè)試流程
應(yīng)用領(lǐng)域
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