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中山利豐精密測量儀器有限公司


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HeLeeX E8-SPR 鍍層測厚/RoHS分析儀器

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地中山市

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更新時間:2024-02-09 11:51:25瀏覽次數(shù):65次

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商鋪產(chǎn)品:727條

所在地區(qū):

聯(lián)系人:于先生

產(chǎn)品簡介

專業(yè)的鍍層測厚儀器HeLeeXE8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF技術(shù),核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告;E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì),多種工作模型供選擇,測試數(shù)據(jù)更精確,更穩(wěn)定

詳細(xì)介紹

          專業(yè)的鍍層測厚儀器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF技術(shù),核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告; E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì),多種工作模型供選擇,測試數(shù)據(jù)更精確,更穩(wěn)定。  

 

      專業(yè)的鍍層測厚儀器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF技術(shù),核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告; E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì),多種工作模型供選擇,測試數(shù)據(jù)更精確,更穩(wěn)定。 ● 鍍層分析:各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;鍍層元素含量分析
●RoHS /ELV指令測試元素:Pb(鉛)、Cd(鎘)、Hg(汞)、Cr(鉻)、Br(溴)

●無鹵檢測:測試元素:Br(溴)、Cl(氯);

●合金分析:鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析。

外形特點(diǎn):

● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長度設(shè)計(jì),方便移動、搬運(yùn)。

● 上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重。

● 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對科學(xué)的敬仰。

● 可視化樣品窗。

● 輻射防護(hù):

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。

● 輻射標(biāo)志警示。

●迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。

● 安全連鎖設(shè)計(jì);測試過程中誤打開樣品蓋時,電路0.1μS快速切斷X 儀器經(jīng)第三方檢測,X射線劑量率符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。

硬件技術(shù):

● 超短光路設(shè)計(jì):提高無鹵檢測分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長儀器使用壽命。

● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響,提高元素分辨率。

● 空氣動力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;設(shè)計(jì)。

● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標(biāo)準(zhǔn)。

● 技術(shù)快拆樣品盤,更換薄膜更 軟件技術(shù):

● 分析元素:Na~U之間元素。

● 分析時間:60秒。

● 配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析 軟件界面簡潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易可配置鍍層測厚模型、玩具指令等模型。

● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。

● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準(zhǔn)度。

● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。

探測器

● 類型:X123探測器(采用高性能電致冷半導(dǎo)體探測器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶體面積:25mm2

● 分辨率:145eV

● 信號處理系統(tǒng)DP5

X射線管

● 電    壓 :0~50kV

● 電流 :2.0mA

● 功率 :50W

● 靶    材 :Mo

● Be窗厚度 :0.2mm

● 使用壽命 :大于2萬小時

高壓電源

● 輸出電壓:0~50kV

● 燈絲電流:0~2mA

● 功率:50W

● 紋波系數(shù):0.1%(p-p 8小時穩(wěn)定性:0.05%

攝像頭

● 微焦距

● 500萬像素

準(zhǔn)直器、濾光片

● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

● 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動切換

其他配件

●進(jìn)口高性能開關(guān)電源

●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇

● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長x寬x高)

● 樣品倉尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長x寬x高)

● 儀器重量   :33.5kg

● 供電電源 :AC220V/ 50Hz

● 功率 :330W

● 工作溫度 :15-30℃

● 相對濕度 :≤85%,不結(jié)露


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