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TrackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng)

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更新時間：2023-06-19 14:31:03瀏覽次數(shù)：220次

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  跟蹤式三維掃描儀

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巴斯德儀器（蘇州）有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：32條

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產(chǎn)品簡介

TrackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 是巴斯德掃描儀儀器網(wǎng)專業(yè)服服務(wù)于工業(yè)級,航空航天,汽車零部件,軌道交通,機(jī)械設(shè)計與生產(chǎn),教學(xué)研究,方向的一款高精度,流程控制型彩色三維掃描儀,航天,航空,船舶,兵器,核工業(yè),電子,計新,冶金,電力,石化,地質(zhì),都有廣泛的使用

詳細(xì)介紹

詳情介紹

rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 是一套同時具備三維掃描和探測功能的跟蹤式三維掃描系統(tǒng)。

rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 三維掃描系統(tǒng)無須貼點即可在各種環(huán)境下掃描物體，快速獲得高精度三維模型，真正意義上實現(xiàn)了無損檢測。

rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 是TrackScan-SOLO的進(jìn)階版，功能更加強(qiáng)大，在測量范圍和精度上都有較大提升，且測量方式可靈活機(jī)變，可應(yīng)對多種三維掃描需求。

rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng)
rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 的跟蹤技術(shù)： LED光學(xué)跟蹤技術(shù)，主動尋靶定位，具備更強(qiáng)的抗力和更大的工作量程。超大的測量范圍：激光掃描時工作距離可達(dá)10米，接觸式光筆測量距離可達(dá)15米，輕松實現(xiàn)大物體三維檢測。
	rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 接觸式測量兼容：配合TrackProbe 光筆，可實現(xiàn)接觸式三維測量，1μm分辨率保證關(guān)鍵點高精度三維數(shù)據(jù)獲取。靈活的測量方案：支持單鏡頭、多鏡頭等多種光學(xué)跟蹤裝置方案，根據(jù)需求調(diào)整工作區(qū)域，掃描區(qū)域和掃描精度之間平衡
測量范圍更廣，精度更高 TrackScan-DUO是TrackScan-SOLO的升級版
的跟蹤技術(shù) LED光學(xué)跟蹤技術(shù)，無須貼點，主動尋靶定位，大幅提升三維測量效率
雙重模式
精度
超大量程
的定位模式 TrackScan-DUO配置了兩臺M-Tracker，測量方式更為靈活，可支持單相機(jī)、雙相機(jī)光學(xué)跟蹤方案，擴(kuò)展測量范圍、提升測量精度雙相機(jī)M-Tracker工作時，共同視野為高精度視野，單個相機(jī)的單獨視野為擴(kuò)展視野，用戶可根據(jù)掃描區(qū)域和精度要求調(diào)整相機(jī)的角度和工作區(qū)域
挪威制造品質(zhì) 挪威，Metronor傾力打造，由碳纖維航天級輕質(zhì)強(qiáng)力材料制造，

TrackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) --產(chǎn)品參數(shù)

型號		TRACKSCAN-DUO系統(tǒng)
設(shè)備		TRACKPROBE 光筆	TRACKSCAN 掃描儀
測量范圍		15m	10m
系統(tǒng)精度		0.02mm	0.03mm
空間精度*	2.5m	0.04mm	0.04mm
	6m	0.08mm	0.08mm
	10m	0.12mm	0.12mm
光筆類型		無線手持、碳纖維筆身	不適用
探針類型		可支持快速更換探針、紅寶石探頭	不適用
分辨率		1μm	0.05mm
掃描激光類別		不適用	ClassII （人眼安全）
掃描速率		不適用	480000次測量/秒
掃描基準(zhǔn)距		不適用	300mm
掃描景深		不適用	250mm
支持文件格式		igs	stl、stp、igs、ply、xyz、dae、obj、asc
環(huán)境要求	工作溫度	-10℃~45℃
	存放溫度	-25℃~65℃
	濕度要求	<95%，無冷凝
空間精度檢定基于ISO10360-2標(biāo)準(zhǔn)