重慶優(yōu)昂機電有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號CIA-500
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地重慶
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更新時間：2023-06-19 11:47:11瀏覽次數(shù)：471次
聯(lián)系我時，請告知來自 包裝印刷網(wǎng)1、界面一目了然、操作簡單
1、界面一目了然、操作簡單。
軟件采用三點定圓的算法,確定濾紙的直徑和掃描范圍。
快速、高效、精準的濾膜圖像自動掃描和拼接（如果用體式顯微鏡方案，速度大約2分鐘）?？啥c
移動到視場或顆粒位置進行觀察，可用鼠標滾輪調(diào)節(jié)焦距。
（平臺控制界面）
（拼接后的圖像）
對明場圖像進行金屬顆粒分析，對暗場圖像（分析時，需加裝偏光裝置）進行非金屬顆粒分析，最后進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計，分析精確度高。
l 先載入明場模式下的圖像進行金屬顆粒分析。
（明場下標記可能是金屬的顆粒）
l 再載入暗場模式下的圖像進行非金屬顆粒分析
（暗場下標記可能是非金屬的顆粒）
l 最后進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計：軟件自動整合明場和暗場下的分析結(jié)果進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
只對明場圖像進行金屬非金屬分析，最后進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計，分析精確度相對來說較低，但分析速度快。
l 載入明場圖像，進行金屬顆粒分析
l 再在該圖像下，進行非金屬顆粒分析
l 最后進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計：軟件自動整合明場下的金屬顆粒和非金屬分析結(jié)果進行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
注：只有進行顆粒統(tǒng)計分析后，才能精確分析出該顆粒是否是金屬或者非金屬顆粒。
（GBT14039）
（ISO4406/4407）
（ISO 16232）
（GB/T 20082-2006）
（自定義標準）
NO | 項目 | 技術(shù)參數(shù) |
1-1 | 正置金相顯微鏡（2選1） | 型號：CIA-500 鏡頭：2倍，5倍，10倍（物鏡數(shù)量3個） 偏光裝置：可選 |
1-2 | 體式顯微鏡 （2選1） | 型號：CIA-100 連續(xù)變倍體式顯微鏡； 放大倍數(shù)范圍0.7-4.5，通過旋鈕進行變倍調(diào)節(jié)； 偏光裝置：可選 |
2 | 電動載物臺 | 平臺行程： 70*70（單位mm） 螺桿導程：2000μm 重復定位精度：±5μm以內(nèi) 16細分下的分辨率：單步0.625μm 步進電機步距角：1.8° 額定工作電流：單軸1.0A（24V電源供電） 負載：≥5kg 往返間隙：5微米 |
3 | 驅(qū)動控制箱 | 長*寬*高：307*260*105（單位：毫米） 觸摸屏：實時顯示數(shù)據(jù)以及觸控操作 采用通用232串口與PC機進行通信（115200波特率） 串口控制，能設置電機的移動速度，移動距離，移動方向 |
4 | 攝像頭 | 300萬或500萬數(shù)字攝像頭 |
5 | 軟件 | 清潔度圖像分析軟件 |
6 | 電腦（選配） | 推薦配置：WIN7操作系統(tǒng)，4核CPU，4G內(nèi)存。 |
l 正置金相顯微鏡方案：
l 體式顯微鏡方案：
l 平臺特寫：
l 控制器：
l 濾膜：
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