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拉曼圖像-掃描電子顯微鏡聯(lián)用儀

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產(chǎn)品型號*/TESCAN MAIA3 GMU model 2016/WITec apyron

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更新時間：2023-12-24 20:33:26瀏覽次數(shù)：287次

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產(chǎn)品簡介

性能指標電鏡分辨率：高真空模式：0.7nm@15kV,1.4nm@1kV,1.7nm@500V

詳細介紹

性能指標

電鏡分辨率：

高真空模式：0.7 nm @ 15 kV, 1.4 nm @ 1 kV,1.7 nm@500 V；減速模式：1.0 nm @ 1 kV-SE,1.2 nm@200 V-SE;
景深模式：2 nm@30 kV；低真空模式：3 nm @ 30kV-SE, 2 nm @ 30 kV-BSE；
放大倍數(shù)@30 kV：4ｘ-1,000,000ｘ；加速電壓：200 V～30 kV，連續(xù)可調(diào)；束流大?。?pA～400nA。

物鏡模式（TriLensTM三物鏡系統(tǒng)）：

WITec共聚焦拉曼顯微鏡：

主要應(yīng)用

該設(shè)備集成了掃描電子顯微鏡與WITec共聚焦拉曼成像的兩個系統(tǒng)，兩者分別具有亞納米和衍射限制的200-300 nm分辨率。
可提供獨立SEM和共焦拉曼顯微鏡的所有功能和特性，并且能夠?qū)呙桦A段的樣品自動轉(zhuǎn)移至光學顯微鏡處進行原位表征，最終可獲取拉曼和SEM的疊加圖像。
可應(yīng)用于材料科學、半導體、光電、太陽能電池、光刻膠、生命科學等領(lǐng)域。

樣品要求

儀器說明

WITec共聚焦拉曼光譜顯微鏡——更高的共焦拉曼成像速度、靈敏度和分辨率；優(yōu)秀的深度分辨率適合三維圖像生成和深度分析；非破壞性成像技術(shù)：樣品無需染色固定；
肖特基場發(fā)射高分辨掃描電鏡——TriglavTM電子鏡筒、TriLensTM物鏡和探測系統(tǒng)，擁有的信噪比，能夠獲取各種納米材料的表面細節(jié)、出色的形貌和成分襯度；尤其是低電壓或電子減速模式下對電子束高敏感的材料或不導電材料的成像（低k系數(shù)介電材料、光刻膠、不導電材料、原始狀態(tài)的生物材料）。

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