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GCSTD-A/B絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀

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  電學(xué)性能檢測(cè)儀器

GC-F液體介電常數(shù)測(cè)試儀

GC-D高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。

詳細(xì)介紹

GCSTD-A/B絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀的詳細(xì)資料：

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法

方法概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至*低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

電極規(guī)格

固體：材料測(cè)量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

將擺錘支承在距擺軸軸線距離Lh的天平或測(cè)力儀上，b)測(cè)量垂直力Fh和長(zhǎng)度Lh,力以為單位，長(zhǎng)度以米

擺錘在沖擊瞬間的速度，以米每秒為單位。擺錘在起始位置，相對(duì)其沖擊位置的勢(shì)能，以焦耳為單位。使試樣變形、斷裂和推離所需的能量，以焦耳為單位。試驗(yàn)機(jī)安裝擺錘軸承、支承架、鉗具和（或）夾具、測(cè)量裝置以及夾持和釋放擺錘機(jī)構(gòu)的部件。

用于拉伸沖擊試驗(yàn)（見ISO2004,方法A和方法B）。g——當(dāng)?shù)氐闹亓铀俣?單位為米每二次方秒（m/s2）；TP——擺錘的擺動(dòng)周期，單位為秒(s)。Tp值的測(cè)量應(yīng)準(zhǔn)確到0.2%。測(cè)量連續(xù)擺動(dòng)n次的總時(shí)間nXTr,并取4次測(cè)量的算術(shù)平均值，續(xù)擺動(dòng)時(shí)間的測(cè)量準(zhǔn)確到0.1s„結(jié)合即要求的準(zhǔn)確度，計(jì)時(shí)裝置的測(cè)量準(zhǔn)確度優(yōu)于0.1s時(shí)，允許適當(dāng)減少擺動(dòng)次數(shù)(見表1)。勢(shì)能E的大允許誤差應(yīng)為表2*列所示標(biāo)稱值的±1%。勢(shì)能采用下述方法測(cè)定，或者采用任何其他滿足上述允差要求的方法測(cè)定

絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀

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