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SEK制冷型微型光纖光譜儀
SEK是一款科研級適用于極弱光檢測的微型光譜儀，采用濱松面陣背照式探測器FFT-CCD，的光學(xué)平臺及光學(xué)組件設(shè)計，具有更低的雜散光和更高的靈敏度。
SEK采用片上熱電制冷技術(shù)，可將探測器的溫度降到低于環(huán)境溫度40℃以下，能夠有效地降低系統(tǒng)的熱電噪聲，極大的提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性，對于熒光、拉曼等弱光檢測更具優(yōu)勢。

產(chǎn)品參數(shù)

探測器

參數(shù)	指標(biāo)
探測器名稱	Hamamatsu S7031
探測器類型	面陣背照式FFT-CCD
像素	1044 x 64 total pixels
量子化效率	250nm處85%，峰值95%
探測器面積	縱 / 橫: 24.576 mm / 1.392 mm
暗電流噪音	10 e-/pixel/sec @ 0 ºC
制冷	內(nèi)一級熱電制冷

光譜特性

參數(shù)	指標(biāo)
波長范圍	視光柵而定，可從190~1100 nm
光學(xué)分辨率	0.17~7.67 nm
信噪比	1000:1
A/D位數(shù)	16 bits
暗噪聲	6 RMS Counts @10 ms
動態(tài)范圍	12000:1
積分時間	8 ms~15 min
雜散光	＜0.08% @ 602 nm，0.4%@435 nm
矯正線性度	> 99%

產(chǎn)品性能
Ø 可長時間曝光，提高光譜儀對極弱光的響應(yīng)能力
Ø 采用熱電內(nèi)制冷技術(shù)，有效地降低了光譜儀的暗噪音
Ø 的光路平臺設(shè)計，使得靈敏度和分辨率顯著提高
Ø 寬譜段效率均衡，最寬范圍可達190~1100 nm
型號說明

型號	說明
SEK	制冷型微型光纖光譜儀（350~1100 nm）
SEK-EX	制冷型微型光纖光譜儀（全波段）
SEK	定制不同波段的微型光譜儀