電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
———增加了“術(shù)語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗項目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目；
———增加了“噪聲”檢驗項目；
———刪除了“相對濕度”檢驗項目；
———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求
———增加了“檢驗負(fù)載”一章；
———修改了“溫度變化速率”的計算方法；
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
———刪除了“檢定過程中的處理”部分；
———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；
———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。 |
GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機(jī)械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī)
---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;
---所有用詞檢定更改為檢驗;
---增加了術(shù)語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗項目;
---增加了溫度均勻度檢驗項目;
---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目;
---增加了溫度指示誤差檢驗項目;
---增加了溫度過沖量檢驗項目;
---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗項目;
---增加了噪聲檢驗項目;
---刪除了相對濕度檢驗項目;
---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求;
---增加了檢驗負(fù)載一章;
---修改了溫度變化速率的計算方法;
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇;
---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC8）提出并歸口。
本部分起草單位:*電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。 |
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