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　　近幾年，通信電子領域的廠商對于環(huán)境測試中的低溫低濕、高溫高濕、快速溫變測試的要求越來越高，對于高低溫試驗箱的要求也相應的提高了，本文主要分析一下低溫低濕的新要求以及如何滿足該測試要求。
 

　　溫濕度測試常規(guī)范圍是25%RH~95%RH(在20℃~85℃之間)。隨著時代的發(fā)展，測試要求也越來越高，新的主流溫濕度測試范圍大多已經提高到10%RH~98%RH(在溫度10℃~95℃之間)。
 

　　但是，消費電子領域的低溫低濕依然突破了上述測試區(qū)間。如下圖客戶測試需求中，需要從35℃,30%RH → 35℃,5%RH → 25℃,5%RH → 10℃,5%RH → 35℃,10%RH。
 

　　其實在低溫低濕測試中，高低溫試驗箱遇到主要的問題是除濕以及溫濕度控制。
 

　　常規(guī)除濕方法是通過除濕蒸發(fā)器進行，而除濕蒸發(fā)器的長期運行，又會導致蒸發(fā)器結霜嚴重。這就需要采用新的除濕方法，例如壓縮空氣干風吹掃。
 

　　溫濕度測試中，宏展科技采用控制露點來控制溫濕度的方法。在溫度-20℃~+10℃，濕度10%~50%rh這個范圍內，露點低至-20℃。