光電測(cè)試三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試材料在瞬間高溫和低溫環(huán)境下的耐受程度的試驗(yàn)設(shè)備。它由高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)三部分組成，測(cè)試樣品靜止于測(cè)試區(qū)。設(shè)備采用的設(shè)計(jì)，通過強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換的方式將高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊，以完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。

該設(shè)備具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，如電子電器零組件、塑膠、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)。它可以用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在溫和極低溫連續(xù)環(huán)境下的忍受程度，以及物理性變化。

光電測(cè)試三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱在性能指標(biāo)方面，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足多個(gè)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2-2008高溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.22-2012溫度變化試驗(yàn)等。

測(cè)試室溫度范圍為-40℃～+150℃，具有低溫沖擊范圍為-10℃～-40℃，高溫沖擊范圍為60℃～150℃。

高溫室預(yù)熱溫度范圍為RT～+165℃，升溫時(shí)間+50℃→+165℃ ≤30min。

低溫室預(yù)冷溫度范圍為RT～-55℃，降溫時(shí)間+20℃ → -55℃≤約60min。

試驗(yàn)室（試樣區(qū)）采用之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。溫度波動(dòng)度為±0.5℃，溫度偏差為±2.0℃，溫度恢復(fù)時(shí)間為≤5min，轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時(shí)間：3秒以內(nèi)）。

此外，沖擊暴露時(shí)間大于等于30min。