一、芯片冷熱沖擊測試箱產品名稱 三箱式冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品型號 3AP-CJ-80A

三、控制儀表 愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設定不同高低溫沖擊溫度點，滿足做測試的不同需求.

四、設備用途 廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理性變化進行試驗,用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理變化。

五、三箱特點 1、三箱設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品靜止于測試區(qū)。采用之蓄熱、蓄冷結構，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

2、可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗機的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。

六、容積、尺寸和重量

6.1. 內容積 80L

6.2. 內箱尺寸 400*500*400mm 　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約) 1550*1850*1600mm (W* H *D)

6.4. 重 量 約900㎏

七、芯片冷熱沖擊測試箱性能指標

7.1. 測試環(huán)境條件 機器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2. 滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍 -40℃～+150 ℃ (風冷式)

7.3.1.低溫沖擊范圍 -10℃～-40 ℃

7.3.2.高溫沖擊范圍 60℃～150 ℃

7.4. 高溫室

7.4.1. 預熱溫度范圍 RT～+165℃

7.4.2. 升溫時間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

7.5. 低溫室

7.5.1. 預冷溫度范圍 RT～-55℃

7.5.2. 降溫時間 +20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能

7.6. 試驗室（試樣區(qū)）

7.6.1. 試驗方式 采用之蓄熱、蓄冷結構，強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。

7.6.2. 溫度波動度 ±0.5℃

7.6.3. 溫度偏差 ±2.0℃

7.6.5. 溫度恢復時間 3~5min；轉換溫度只需要≤10s（風門開啟時間：5秒以內）

7.7.沖擊暴露時間 ≥30min