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二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間:2022-11-15 15:11:28瀏覽次數(shù):776

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具

詳細(xì)介紹

 二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱




二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

一、產(chǎn)品名稱二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱(風(fēng)冷式)

二、產(chǎn)品型號(hào)2AP-CJ-50A

三、控制儀表愛(ài)佩自主研發(fā)7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器(具有溫度報(bào)警顯示、實(shí)時(shí)溫度曲線顯示)

四、試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

五、二箱特點(diǎn)兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,采用吊籃移動(dòng)式控制,轉(zhuǎn)換時(shí)間短符合國(guó)標(biāo)要求,溫度恢復(fù)時(shí)間短,溫變速度快,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,采用兩箱法,提高了工作室的溫度均勻性。

兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn):

·采日制彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。

·無(wú)紙式記錄功能,具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。

·二箱移動(dòng)式冷熱沖擊,安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。

·冷熱沖擊機(jī)構(gòu)移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi),可符合MIL,LEC,JIS等規(guī)范。

·冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi),可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。

·采用HFC環(huán)保冷媒,二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì),降溫快、效率高。

六、容積、尺寸和重量

6.1.內(nèi)容積50L

6.2.內(nèi)箱尺寸350*400*350mm (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約)1350*1800*1850mm(W* H *D)

6.4.重 量約700㎏

七、二箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能指標(biāo)

7.1.測(cè)試環(huán)境條件機(jī)器周?chē)h(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間,相對(duì)濕度:≤85%;氣壓:86kPa~106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測(cè)試室溫度范圍-40℃~+150℃ (風(fēng)冷式)

7.4.高溫室

7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT~+165℃

7.4.2.升溫時(shí)間+50℃→+165℃ ≤40min (注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能)

7.5.低溫室

7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT~-50℃

7.5.2.降溫時(shí)間RT~-50℃ ≤60min

注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

7.6.試驗(yàn)室(試樣區(qū))

7.6.1.試驗(yàn)方式把產(chǎn)品擺放在吊籃測(cè)試區(qū),二箱移動(dòng)式冷熱沖擊,安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。

7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃

7.6.3.溫度偏差±2.0℃

7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min;轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s(吊籃移動(dòng)時(shí)間:3秒以內(nèi))


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